Crystal structure and dielectric properties of BiFeO3 multiferroics heteroepitaxial films grown on Pt(001)/MgO(001) substrates

Мұқаба

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The crystal structure, dielectric and polarization properties of BiFeO3 films grown on a Pt(001)/MgO(001) substrate have been studied. It is established that the obtained films are single-phase, pure, single-crystal and have a high structural perfection. The obtained experimental results are discussed.

Авторлар туралы

A. Nazarenko

Federal Research Centre Southern Scientific Centre of the Russian Academy of Sciences

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: avnazarenko1@gmail.com
Russia, 344006, Rostov-on-Don

Ya. Matyash

Federal Research Centre Southern Scientific Centre of the Russian Academy of Sciences

Email: avnazarenko1@gmail.com
Russia, 344006, Rostov-on-Don

P. Popov

All-Russian Research Institute of Metrological Service

Email: avnazarenko1@gmail.com
Russia, 119361, Moscow

A. Pavlenko

Federal Research Centre Southern Scientific Centre of the Russian Academy of Sciences

Email: avnazarenko1@gmail.com
Russia, 344006, Rostov-on-Don

D. Stryukov

Federal Research Centre Southern Scientific Centre of the Russian Academy of Sciences

Email: avnazarenko1@gmail.com
Russia, 344006, Rostov-on-Don

Әдебиет тізімі

  1. Shimakawa Y., Azuma M., Ichikawa N. // Materials. 2011. V. 4. No. 1. P. 153.
  2. Ramesh R., Spaldin N.A. // Nature Mater. 2007. V. 6. P. 21.
  3. Kumar M., Shankar S., Brijmohan S. et al. // Phys. Lett. A. 2016. V. 381. P. 379.
  4. Kaur I., Verma N.K. // Mater. Sci. Semicond. Process. 2015. V. 33. P. 32.
  5. Lakshmi B.D., Paratap K., Parvatheeswara Rao B. et al. // Ceram. Int. 2015. V. 42. P. 2186.
  6. Royen, P., Swars, K. // Angew. Chem. 1957. V. 69. No. 24. P. 779.
  7. Заславский А.И., Тутов А.Г. // Докл. АН СССР. 1960. Т. 135. № 4. С. 815.
  8. Smolenskii G.A., Bokov V.A., Isupov V.A. et al. // Helv. Phys Acta. 1968. V. 41. P. 1187.
  9. Michel C., Moreau J.-M., Achenbach G.D. et al. // Solid State Comm. 1969. V. 7. No. 9. P. 701.
  10. Catalan G., Scott J.F. // Adv. Mater. 2009. V. 21. P. 2463.
  11. Sosnowska I., Neumaier T.P., Steichele E. // J. Physics C. 1982. V. 15. P. 4835.
  12. Sando D., Bartheemy A., Bibes M. // J. Phys. Cond. Matter. 2014. V. 26. Art. No. 473201.
  13. Xue J.M., Wan D.M., Wang J. // Solid State Ionics. 2002. V. 151. P. 403.
  14. Cushing B.L., Kolesnichenko V.L., O’Connor C.J. // Chem. Rev. 2004. V. 104. P. 3893.
  15. Matsumuto K., Yamaguchi K., Fuji T., Ueno A. // J. Appl. Phys. 1991. V. 69. P. 5918.
  16. Babooram K., Ye Z.-G. // Chem. Mater. 2006. V. 18. P. 532.
  17. Pechini M.P. Method of preparing lead and alkaline earth titanates and niobates and coating method using the same to form a capacitor. U.S. Patent № 3330697. 1967.
  18. Gulgun M.A., Nguyen M.H., Kriven W.M. // J. Amer. Ceram. Soc. 1999. V. 82. P. 556.
  19. Rajamathi M., Seshadri R. // Curr. Opin. Solid State Mater. Sci. 2002. V. 6. P. 337.
  20. Suslik K.S., Price G.J. // Annu. Rev. Mater. Sci. 1999. V. 29. P. 295.
  21. Patil K.C. // Bull. Mater. Sci. 1993. V. 16. P. 533.
  22. Jian Y., Juan Hao Ch. // Chin. Sci. Bull. 2008. V. 53. P. 2097.
  23. Singh A., Khan Z.R., Vilarinho P.M. et al. // Mater. Res. Bull. 2014. V. 49. P. 531.
  24. Картавцева М.С., Горбенко О.Ю., Кауль А.Р. и др. // Поверхн. Рентген., синхротрон. нейтрон. иссл. 2008. Т. 2. № 1. С. 3; Kartavtseva M.S., Gorbenko O.Yu., Kaul’ A.R. et al. // J. Surf. Invest. X-ray. Synchrotron. Neutron Techn. 2008. V. 2. No. 1. P. 1.
  25. Ternon C., Thery J., Baron T. et al. // Thin Solid Films. 2006. V. 515. No. 2. P. 481.
  26. Павленко А.В., Стрюков Д.В., Кубрин С.П. // ФТТ. 2022. № 2. С. 218; Pavlenko A.V., Stryukov D.V., Kubrin S.P. // Phys. Solid State. 2022. V. 64. No. 2. P. 212.
  27. Sharma S., Saravanan P., Pandey O.P. // J. Mater. Sci. Mater. Electron. 2016. V. 27. P. 5909.
  28. Wang D., Wang G., Murakami S. et al. // J. Adv. Dielectric. 2018. V. 8. No. 6. Art. No. 1830004.
  29. Nie P.-X., Wang Y.-P., Yang Y. et al. // Energy Harvest. Syst. 2015. V. 2. No. 3–4. P. 157.
  30. Li W., Wang Y., Nie P. et al. // Physica B. 2015. V. 466–467. P. 11.
  31. Raghavan C.M., Kim J.W., Kim H.J. et al. // J. Sol-Gel Sci. Technol. 2012. V. 64. P. 178.
  32. Lee M.H., Park J.S., Cho H.J. et al. // J. Korean Phys. Soc. 2012. V. 60. No. 2. P. 272.
  33. Ahn Y., Son J.Y. // J. Korean Ceram. Soc. 2022. V. 59. No. 6. P. 787.
  34. Pan T.-M., Chou Y.-C., Her J.-L. // Mater. Chem. Phys. 2022. V. 278. Art. No. 125699.
  35. Zhang Y., Yu S., Cheng J. // J. Eur. Ceram. Soc. 2010. V. 30. No. 2. P. 271.
  36. Jun Y.K., Moon W.T., Chang C.M., et al. // Solid State Commun. 2005. V. 135. P. 133.
  37. Singh S.K., Ishiwara H., Maruyama K. // J. Appl. Phys. 2006. V. 100. Art. No. 064102.
  38. Singh S.K., Maruyama K., Ishiwara H. // Appl. Phys. Lett. 2007. V. 91. Art. No. 112913.
  39. Jangid S., Barbar S.K., Roy M. Biosensors nanotechnology: advanced materials series. USA: Scrivener Publishing LLC, 2014. P. 433.
  40. Pavlovic N., D’Haen J., Modarresi H. et al. // J. Mater. Sci. 2015. V. 50. P. 4463.
  41. Venkateswarlu A.R., Varma G.D., Nath R. // AIP Advances. 2001. V. 1. Art. No. 042140.
  42. Reddy V.A., Pathak N.P., Nath R. // Thin Solid Films. 2013. V. 527. P. 358.
  43. Das S., Basu S., Mitra S., Chakravorty D. et al. // Thin Solid Films. 2010. V. 518. P. 4071.
  44. Gumiel C., Jardiel T., Calatayud D.G. et al. // J. Mater. Chem. C. 2020. V. 8. P. 4234.
  45. Gumiel C., Calatayud D.G. // Ceramica y Vidrio. 2022. V. 61. P. 708.
  46. Шилкина Л.А., Глазунова Е.В., Вербенко И.А. и др. // Вест. Луганск. нац. ун-та. им. В. Даля. 2019. № 7(25). С. 25.
  47. Мухортов В.М., Юзюк Ю.И. Гетероструктуры на основе наноразмерных сегнетоэлектрических пленок: получение, свойства и применение. Ростов-на-Дону: Изд-во ЮНЦ РАН, 2008. 224 с.
  48. Lee M. X-ray diffraction for materials research: from fundamentals to applications. N.Y.: Apple Academic Press, 2016. 302 p.

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML
2.

Жүктеу (1MB)
3.

Жүктеу (241KB)
4.

Жүктеу (49KB)
5.

Жүктеу (106KB)

© А.В. Назаренко, Я.Ю. Матяш, П.В. Попов, А.В. Павленко, Д.В. Стрюков, 2023