Автор туралы ақпарат
Кириленко, Е. П.
| Шығарылым | Бөлім | Атауы | Файл |
| № 4 (2024) | Articles | Study of SiO2 films implanted with 64Zn+ ions and oxidized at elevated temperatures |
Пайдаланушы
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер
X-ray diffraction
X-ray diffraction analysis
X-ray photoelectron spectroscopy
compact neutron source
density functional theory
electron microscopy
ion implantation
irradiation
magnetron sputtering
microstructure
neutron reflectometry
phase composition
scanning electron microscopy
scanning probe microscopy
silicon
structure
surface
surface morphology
synchrotron radiation
thin films
zinc oxide
Ағымдағы шығарылым
№ 1 (2025)
×
Пайдаланушы
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер
X-ray diffraction
X-ray diffraction analysis
X-ray photoelectron spectroscopy
compact neutron source
density functional theory
electron microscopy
ion implantation
irradiation
magnetron sputtering
microstructure
neutron reflectometry
phase composition
scanning electron microscopy
scanning probe microscopy
silicon
structure
surface
surface morphology
synchrotron radiation
thin films
zinc oxide
Ағымдағы шығарылым