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ISSN 1028-0960 (Print)
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Palavras-chave X-ray diffraction X-ray photoelectron spectroscopy atomic force microscopy channeling electron microscopy ion implantation irradiation magnetron sputtering microstructure nanoparticles neutron reflectometry optical properties phase composition scanning electron microscopy silicon structure surface surface morphology synchrotron radiation thin films zinc oxide
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Informaçao sobre o Autor

Амиров, И. И.

Edição Seção Título Arquivo
Nº 11 (2024) Articles Formation of Nanostructures on the Surface of Aluminium—Silicon Films by Bombardment with Low-Energy Argon Ions of Inductive RF Discharge Plasma
Nº 11 (2024) Articles Sputtering Yields for Single Crystal Samples of PbX (X = S, Se, Te) with Different Crystallographic Orientations
Nº 11 (2024) Articles Oxidation and Etching of Thin Ruthenium Films in Low Ion Energy Oxygen Plasma
 

 

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