О неразрушающем профилировании состава тонких металл-оксидных наноструктур методами спектроэллипсометрии
- Authors: Котенев В.A.1
-
Affiliations:
- Институт физической химии и электрохимии им. А.Н. Фрумкина
- Issue: Vol 61, No 2 (2025)
- Pages: 186-195
- Section: НАНОРАЗМЕРНЫЕ И НАНОСТРУКТУРИРОВАННЫЕ МАТЕРИАЛЫ И ПОКРЫТИЯ
- URL: https://jdigitaldiagnostics.com/0044-1856/article/view/689100
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0044185625020094
- EDN: https://elibrary.ru/KQLPUN
- ID: 689100
Cite item
Abstract
Рассмотрены принципы спектральной поляризационной рефлектометрии и эллипсометрии для неразрушающего контроля тонких металл-оксидных наноструктур – рабочих материалов металл-оксидной наноэлектроники. Спектральные измерения рефлектометрических и эллипсометрических параметров позволяют восстановить профиль состава неоднородного по объему слоя металл-оксидного нанокомпозита путем решения интегрального уравнения 1 рода типа Фредгольма. Метод был протестирован при исследовании структуры и состава термооксидного слоя при электроконтактном нагреве тонкой пленки стали на основе системы Fe–18Cr в области низкотемпературного активирования, где при изменении активности окислителя структура, состав и электрические свойства неоднородного поверхностного термооксидного слоя существенно изменяются.
Full Text

About the authors
В. A. Котенев
Институт физической химии и электрохимии им. А.Н. Фрумкина
Author for correspondence.
Email: m-protect@mail.ru
Russian Federation, ИФХЭ РАН Ленинский пр., 31, корп. 4, Москва, 119071
References
- Resistive Switching. From Fundamentals of Nanoionic Redox Processes to Memristive Device Applications // Eds D. Ielmini and R. Waser. Weinheim: Wiley, 2016.
- Kim T.H., Jang E.Y., Lee N.J. et al. // Nano Lett. 2009. V. 9. 2229.
- Yoo J.W., Hu Q., Baek Y.-J. et al. // Appl.Phys. 2012. V. 45. P. 225304.
- Baek Y.-J., Q. Hu, Yoo J.W. // Nanoscale. 2013. V. 5. P. 772.
- Nagashima K., Yanagida T., Oka K. et al. // Nano Lett. 2010. V. 10. P. 1359.
- Котенев В.А., Высоцкий В.В. // Физикохимия поверхности и защита материалов. 2019. Т. 55. № 5. С. 522-530.
- Pham K.N., Ta K.H.T., Nguyen L.T.T., Tran V.C. and Phan B.T. // Advances in Materials Physics and Chemistry. 2016. V. 6. P. 21. http://dx.doi.org/10.4236/ampc.2016.63003
- Fu Y., Chen J., Zhang J. // Chem. Phys. Lett. 2001. V. 350. P. 491.
- Котенев В.А., Киселев М.Р., Золотаревский В.И., Цивадзе А.Ю. // Физикохимия поверхности и защита материалов. 2014. Т. 50. № 4. С. 399.
- Soler M.A.G., Qu F. // Raman Spectroscopy for Nanomaterials Characterization / Ed. Ch.S.S.R. Kumar. Berlin, Heidelberg: Springer, 2012. P. 379.
- Paranaiba O., Neto V. // Journal of Computational and Theoretical Nanoscience. 2014. V. 11. P. 1.
- Li D., and Du Y. Artificial intelligence with uncertainty. N. Y.: Chapman & Hall/CRC, Taylor & Francis Group, 2007.
- Kotenev V.A. // Proc. SPI E. 1992. V. 1843. P. 259.
- Kaiser J.H. // Appl. Phys. B. 1988. V. 45. P. 1.
- Хермен Г. Восстановление изображений по проекциям: Основы реконструктивной томографии. М.: Мир, 1983. 352 с.
- Тихонов А.Н., Арсенин В.Я. Методы решения некорректных задач. М.: Наука, 1986. 287 с.
- Верлань А.Ф., Сизиков В.С. Интегральные уравнения. Киев: Наук. Думка, 1986. 543 с.
- Azzam R.M.A., Bashara N.M. Ellipsometry and Polarized Light. Amsterdam: North-Holland, 1977.
- Hunderi O. // Surface Science. 1980. V. 96. № 1. P. 1.
- Lorentz H.A. // Wiedem. Ann. 1880. V. 9. P. 641.
- Lorenz L. // Wiedem Ann. 1881. V. 11. P. 70.
- Yan X., Wang J., Zhao M., Li X. et al. // Applied Physics Letters. 2018. V. 113. № 1. 013503. https://doi.org/10.1063/1.5027776
- Gergel-Hackett N., Tedesco J.L., Richter C.A. // Proceedings of the IEEE. 2012. V. 100. № 6. P. 1971.
- Котенев В.А. // Физикохимия поверхности и защита материалов. 2023. Т. 59. № 4. С. 387–396.
- Котенев В.А. // Физикохимия поверхности и защита материалов. 2021. Т. 57. № 6. С. 609–617.
- Котенев В.А. // Физикохимия поверхности и защита материалов. 2024. Т. 60. № 5. С. 501–506.
- Котенев В.А. // Защита металлов. 2003. Т. 39. № 4. С. 437-447.
- Tanaka T. // Jap. J. Appl. Phys. 1979. V. 18. P. 1043.
- Idczak E., Oleszkiewicz E. // Thin Solid Films. 1981. V. 77. P. 301.
- Винчелл А.Н., Винчелл Г.В. Оптические свойства искусственных минералов. М.: Мир, 1967.
- Hua S.B., Jin T., Guo X. // Int. J. Extrem. Manuf. 2024. V. 6. 032008.
- Окисление металлов / Под ред. Бенара Ж.М. Металлургия, 1968. Т. 2. 448 с.
- Boggs W.E., Kachik R.H., Pellizier G.E. // J. Electrochem. Soc. 1965. V. 112. № 6. P. 539.
- Boggs W.E., Kachik R.H., Pellizier G.E. // J. Electrochem. Soc. 1967. V. 114. № 1. P. 32.
Supplementary files
