Nuclear scanning microprobe in the study of silicon carbide epilayers

Мұқаба

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

We presented the results of the study of surfaces of homoepitaxial 4H-SiC layers using a nuclear scanning microprobe in the Rutherford backscattering mode. Analysis of the state of the sample surfaces and synthesis modes showed that an increase in the silicon (Si) content in the upper layers of some samples precedes the formation of highly defective 4H-SiC layers.

Авторлар туралы

M. Buzoverya

Russian Federal Nuclear Center — All-Russia Research Institute of Experimental Physics

Email: dismos51@gmail.com
Ресей, Sarov, 607188

I. Karpov

Russian Federal Nuclear Center — All-Russia Research Institute of Experimental Physics

Email: dismos51@gmail.com
Ресей, Sarov, 607188

A. Arkhipov

Russian Federal Nuclear Center — All-Russia Research Institute of Experimental Physics

Email: dismos51@gmail.com
Ресей, Sarov, 607188

D. Skvortsov

National Research Ogarev Mordovia State University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: dismos51@gmail.com

Research Laboratory “Synthesis and Processing of Silicon Carbide Single Crystals”

Ресей, Saransk, 430005

V. Neverov

National Research Ogarev Mordovia State University

Email: dismos51@gmail.com

Research Laboratory “Synthesis and Processing of Silicon Carbide Single Crystals”

Ресей, Saransk, 430005

B. Mamin

National Research Ogarev Mordovia State University

Email: dismos51@gmail.com

Research Laboratory “Synthesis and Processing of Silicon Carbide Single Crystals”

Ресей, Saransk, 430005

Әдебиет тізімі

  1. Лучинин В.В., Таиров Ю.М. // Изв. вузов. Электроника. 2011. № 6(92). С. 3.
  2. Афанасьев А.В., Ильин В.А., Лучинин В.В., Решанов С.А. // Изв. вузов. Электроника. 2020. Т. 25. № 6. С. 483.
  3. Авров Д.Д., Лебедев А.О., Таиров Ю.М. // Изв. вузов. Электроника. 2015. Т. 20. № 3. С. 225.
  4. Давыдов С.Ю., Лебедев А.А., Савкина Н.С., Волкова А.А. // ЖТФ. 2005. Т. 75. № 4. С. 114; Davydov S.Yu., Lebedev A.A., Savkina N.S., Volkova A.A. // Tech. Phys. 2005. V. 50. No. 4. P. 503.
  5. Schöler M., Schuh P., Steiner J., Wellmann P.J. // Mat. Sci. Forum. 2019. V. 963. P. 157.
  6. Давыдов С.Ю., Лебедев А.А., Савкина Н.С. и др. // ФТП. 2004. Т. 38. № 2. С. 153.
  7. Гаврилов Г.Е., Бузоверя М.Э., Карпов И.А. и др. // Изв. РАН. Сер. физ. 2022. Т. 86. № 8. С. 1155; Gavrilov G.E., Buzoverya M.E., Karpov I.A. et al. // Bull. Russ. Acad. Sci. Phys. 2022. V. 86. No. 8. P. 956.
  8. Lilov S.K. // Mater. Sci. Engin. B. 1993. V. 21. P. 65.
  9. Vasiliauskas R., Marinova M., Hens P. et al. // Cryst. Growth Des. 2012. V.12. P. 197.
  10. Быков Ю.О., Лебедев А.О., Щеглов М.П. // Неорг. матер. 2020. T. 56. № 9. C. 979.

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Russian Academy of Sciences, 2024